汇编语言TEST指令：对两个操作数进行逻辑（按位）与操作

TEST 指令在两个操作数的对应位之间进行 AND 操作，并根据运算结果设置符号标志位、零标志位和奇偶标志位。

TEST 指令与《AND指令》一节中介绍的 AND 指令唯一不同的地方是，TEST 指令不修改目标操作数。TEST 指令允许的操作数组合与 AND 指令相同。在发现操作数中单个位是否置位时，TEST 指令非常有用。

示例：多位测试

TEST 指令同时能够检查几个位。假设想要知道 AL 寄存器的位 0 和位 3 是否置 1，可以使用如下指令：

test al, 00001001b ;测试位 0 和位 3

（本例中的 0000 1001 称为位掩码。）从下面的数据集例子中，可以推断只有当所有测试位都清 0 时，零标志位才置 1：

0  0  1  0  0  1  0  1    <- 输入值
0  0  0  0  1  0  0  1    <- 测试值
0  0  0  0  0  0  0  1    <- 结果：ZF=0

0  0  1  0  0  1  0  0    <- 输入值
0  0  0  0  1  0  0  1    <- 测试值
0  0  0  0  0  0  0  0    <- 结果：ZF=1

标志位

TEST 指令总是清除溢出和进位标志位，其修改符号标志位、零标志位和奇偶标志位的方法与 AND 指令相同。