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汇编语言TEST指令:对两个操作数进行逻辑(按位)与操作

TEST 指令在两个操作数的对应位之间进行 AND 操作,并根据运算结果设置符号标志位、零标志位和奇偶标志位。

TEST 指令与《AND指令》一节中介绍的 AND 指令唯一不同的地方是,TEST 指令不修改目标操作数。TEST 指令允许的操作数组合与 AND 指令相同。在发现操作数中单个位是否置位时,TEST 指令非常有用。

示例:多位测试

TEST 指令同时能够检查几个位。假设想要知道 AL 寄存器的位 0 和位 3 是否置 1,可以使用如下指令:

test al, 00001001b ;测试位 0 和位 3

(本例中的 0000 1001 称为位掩码。)从下面的数据集例子中,可以推断只有当所有测试位都清 0 时,零标志位才置 1:

0  0  1  0  0  1  0  1    <- 输入值
0  0  0  0  1  0  0  1    <- 测试值
0  0  0  0  0  0  0  1    <- 结果:ZF=0

0  0  1  0  0  1  0  0    <- 输入值
0  0  0  0  1  0  0  1    <- 测试值
0  0  0  0  0  0  0  0    <- 结果:ZF=1

标志位

TEST 指令总是清除溢出和进位标志位,其修改符号标志位、零标志位和奇偶标志位的方法与 AND 指令相同。

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